Товары
- Aczet
- Инкубаторы
- Микроскопы
- Спектрофотометры
- Строительные оборудования
- СЭМ-микроскопы
- Учебные стенды
- Холодильное и морозильное лоборудование
- Шкафы
- Электротехнические приборы
- Весы
- Геодезическое оборудование
- Измерительные приборы
- Испытательное оборудование
- Лабораторное оборудование
- Оборудование для зерновых лабораторий
- Прочие
ОБЛАКО ТЕГОВ
ФОТОГАЛЕРЕЯ
AFM-Nanoview 1000 атомно-силовой микроскоп
FM-Nanoview 1000 AFM — недорогой атомно-силовой микроскоп китайского производства. Сканирование производится образцом, расположенным на пьезотрубке. В конструкции отсутствует юстировочное зеркало, что повышает качество отраженного лазерного сигнала от кантилевера. Конструкция обладает высокими антивибрационными характеристиками.
FM-Nanoview 1000 AFM — недорогой атомно-силовой микроскоп китайского производства. Сканирование производится образцом, расположенным на пьезотрубке. В конструкции отсутствует юстировочное зеркало, что повышает качество отраженного лазерного сигнала от кантилевера. Конструкция обладает высокими антивибрационными характеристиками.
Возможность адаптировать сервопривод для создания картрирования больших площадей.
В состав входит система оптического наблюдения как для юстировки лазера на поверхности кантилевера, так и для позиционирования кантилевера над поверхностью образца. Встроенная система виброизоляции эффективно защищает микроскоп от внешних воздействий.
Программное обеспечение
- Выполняет функцию перемещения и выбор области сканирования
- Возможность выбора угла сканирования;
- Возможность юстировки лазерного пучка на фотодиоде в реальном времени;
- Возможность калибровки электронной системы.
Основные технические параметры атомно-силового микроскопа FM-Nanoview 1000 AFM
| Параметры | Описание |
| Размер исследуемых образцов | в направлении X / Y: не более 3 см, в направление Z: не более 5 мм; |
| Диапазон сканирования | опционально в направление X / Y: 50мкм, в направление Z: 2мкм (в зависимости от пьезосканера). |
| Разрешение сканирования | в направление X / Y: 0,2 нм, в направление Z: 0,05 нм |
| Шаг перемещения образца по Z | 0 ~ 13мм |
| Скорость сканирования | 0,6 Гц ~ 4.34 Гц |
| Оптический объектив для позиционирования
|
увеличение 4X с разрешением 2.5 мкм |
| ПЗС-монитор | 5.6 » в диагонали |
| ОС управления | Windows XP / 7/8/10 |
| Интерфейс подключения к ПК | USB 2.0 / 3.0 |
| Система подавления акустического шума | Сканирующая насадка располагается на пружинном подвесе, внутри закрытого металлического корпуса покрытого акустическим войлоком изнутри. |
Похожие товары
-
Микроскопы
Стереомикроскоп BIOLAB
ПодробнееОсвещение Естественный свет *Просмотр головы и тела Наклонный просмотровый корпус с возможностью вращения на 360° *Цель 2X&4X, поворот на 360° *Рабочее расстояние 100 мм *Окуляр WF10X/20 *Источник питания AC110/220 В ± 10%, 50/60 Гц *Размер упаковки 400x250x360 мм *Вес брутто 8 кг
-
Микроскопы
Биологический микроскоп XSZ-107SM
ПодробнееСпецификация биологического микроскопа XSZ-107SM: Модель XSZ-107SM Смотровая головка Без компенсации Тринокулярные окуляры Окуляры с широким полем зрения WF10X、(WF16X опционально) Хроматический объектив 4X,10X,40X(пружина) Двухслойный столик Механический размер столика 132X140 мм…
-
Микроскопы
бинокулярный биологический микроскоп XSP116
ПодробнееМодель
XSP-116
Ахроматическая цель
4X,10X,40X (пружина)
Окуляр
Широкие окуляры WF10X (WF16X опционально)
Головка для просмотра
Монокулярная, бинокулярная или тринокулярная головка
Сцена
Простая сцена с парными зажимами, размер сцены 90mmx90мм
Конденсатор
N.A.0.65 конденсатор с дисковой диафрагмой N.A.0.65
Фокусировка
Грубая и тонкая регулировка
Мощность
AC Вход 220V или 110V DC Выход 6В
Освещение
Светодиодный светильник







