Тел: +998974611122
LOGIN / REGISTER
close

Корзина пуста.

Return to shop
LOGIN / REGISTER
close

Корзина пуста.

Return to shop

Товары

ОБЛАКО ТЕГОВ

Aczet GNSS-оборудование ph-метры, кондуктометры Аксессуары для микроскопов Аналитические весы Весы Водяные бани Геодезическое оборудование Измерительные приборы Инкубаторы Инфракрасный спектрофотометр Испытательное оборудование Лабораторное оборудование Лабораторные весы Azset Лабораторные морозильники Лабораторные холодильники Ламинарные шкафы Медицинские оборудования Мешалки Микроскопы Микроскопы биологический Микроскопы монокулярные Микроскопы тринокулярные Муфельные печи Наземные лазерные сканеры Насосы Нивелиры Оборудование для зерновых лабораторий Прецизионные весы Прецизионные весы Azset Прочие Спектрофотометры Стереомикроскопы Стерилизаторы-автоклавы Строительные оборудования Строительный контроль Сушильные печи Тахеометры Трассоискатели, маркероискатели Устройство испытательное Холодильное и морозильное лоборудование Шейкеры Шкафы Шкафы биологической безопасности Электротехнические приборы
AFM-Nanoview 1000 атомно-силовой микроскоп

AFM-Nanoview 1000 атомно-силовой микроскоп

FM-Nanoview 1000 AFM — недорогой атомно-силовой микроскоп китайского производства. Сканирование производится образцом, расположенным на пьезотрубке. В конструкции отсутствует юстировочное зеркало, что повышает качество отраженного лазерного сигнала от кантилевера. Конструкция обладает высокими антивибрационными характеристиками.

Категории: ,

FM-Nanoview 1000 AFM — недорогой атомно-силовой микроскоп китайского производства. Сканирование производится образцом, расположенным на пьезотрубке. В конструкции отсутствует юстировочное зеркало, что повышает качество отраженного лазерного сигнала от кантилевера. Конструкция обладает высокими антивибрационными характеристиками.

Возможность адаптировать сервопривод для создания картрирования больших площадей.
В состав входит система оптического наблюдения как для юстировки лазера на поверхности кантилевера, так и для позиционирования кантилевера над поверхностью образца. Встроенная система виброизоляции эффективно защищает микроскоп от внешних воздействий.

Программное обеспечение

  • Выполняет функцию перемещения и выбор области сканирования
  • Возможность выбора угла сканирования;
  • Возможность юстировки лазерного пучка на фотодиоде в реальном времени;
  • Возможность калибровки электронной системы.

Основные технические параметры атомно-силового микроскопа FM-Nanoview 1000 AFM

 

Параметры   Описание
Размер исследуемых образцов в направлении X / Y: не более 3 см, в направление Z: не более 5 мм;
Диапазон сканирования опционально в направление X / Y: 50мкм, в направление Z: 2мкм (в зависимости от пьезосканера).
Разрешение сканирования в направление X / Y: 0,2 нм, в направление Z: 0,05 нм
Шаг перемещения образца по Z 0 ~ 13мм
Скорость сканирования 0,6 Гц ~ 4.34 Гц
Оптический объектив для позиционирования

 

 увеличение 4X с разрешением 2.5 мкм
ПЗС-монитор 5.6 » в диагонали
ОС управления Windows XP / 7/8/10
Интерфейс подключения к ПК USB 2.0 / 3.0
Система подавления акустического шума Сканирующая насадка располагается на пружинном подвесе, внутри закрытого металлического корпуса покрытого акустическим войлоком изнутри.

 

Похожие товары

Микроскопы высокого разрешения ModuleSci

Микроскоп металлографический цифровой MAGUS Metal D630 LCD

Микроскоп металлографический

Heal Force Сверхнизко температурная морозильная камера HFLTP 86 830

морозильная камера
Select the fields to be shown. Others will be hidden. Drag and drop to rearrange the order.
  • Image
  • SKU
  • Rating
  • Price
  • Stock
  • Availability
  • Add to cart
  • Description
  • Content
  • Weight
  • Dimensions
  • Additional information
Click outside to hide the comparison bar
Compare